TSX5 (P952) представляет собой шестой аппарат в рамках программы STP по проведению экспериментов на малых космических платформах. Первые пять аппаратов, созданных по программе STP, носили наименование STEP (Space Test Experiment Platform) с номерами от M0 до M4. Поэтому TSX имеет в своем обозначении порядковый номер 5. Компоновка КА включает базовый блок (core module), систему отделения, модуль аппаратуры STRV2 и панели солнечных батарей. На борту TSX установлены два исследовательских комплекса:
- STRV2 (Space Test Research Vehicle2) - создание аппаратуры STRV2 профинансировано Организацией по защите от баллистических ракет (BMDO) МО США. Разработка отдельных инструментов выполнена промышленными и военными организациями США и британского Управления оборонных оценок и исследований DERA (Defence Evaluation and Research Agency), более известного под прежним наименованием RAE (Royal Aircraft Establishment).Основными задачами аппаратуры STRV2 являются:
- демонстрация возможности эксплуата ции оптических устройств (камеры среднего ИК диапазона MWIR и аппаратуры лазерной связи LASERCOM) на недорогой платформе, не обеспечивающей прецизионные характеристики по ориентации, вибрационным параметрам и т.п.;
- передача данных на Землю через LASERCOM;
- получение фоновых характеристик ИК диапазона на заданных длинах волн для малых и больших высот;
- оценка устойчивости работы аппаратуры в условиях космического пространства.
|
- CEASE (Compact Environmental Anomaly Sensor) - разработка аппаратуры CEASE (Compact Environmental Anomaly Sensor) осуществлена засчет средств, выделенных Геофизической лабораторией PL/GPSP Исследовательской лаборатории имени Филлипса ВВС США (AFRL). Основной задачей эксперимента является создание и орбитальная демонстрация автономного, компактного, легкого и потребляющего мало энергии комплекта приборов для мониторинга окружающего КА пространства, а также формирования оперативных сообщений в случаях возникновения следующих аномалий:
- накопление большого электростатического заряда на элементах конструкции КА;
- накопление большого заряда на диэлектрических поверхностях;
- возникновение одиночных сбоев (Single Event Upsets, SEU) в электронной аппаратуре;
- возможное негативное влияние радиационных излучений.
|
|
